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नियंत्रण में भाग लेने पर सामग्री परीक्षक बिनिंग को रखने के दौरान समस्याएं उत्पन्न हो सकती हैं

जारी करने का समय:2018-11-23 स्रोत:जोनान हेंगी शंदा इंस्ट्रूमेंट कं, लिमिटेड ब्राउज़:


सामग्री परीक्षण मशीनग्रेडिंग प्रक्रिया के दौरान, नियंत्रण ऑपरेशन के दौरान परीक्षण मशीन में अक्सर कुछ समस्याएं होती हैं, जिससे मशीन परीक्षण संचालन के दौरान उपयोग करना मुश्किल हो जाता है।
वर्तमान में, सामग्री के विविधीकरण के कारण, अधिक से अधिक परीक्षण विधियों की आवश्यकता होती है, और परीक्षण मशीन के नियंत्रण विधि के लिए अधिक से अधिक आवश्यकताएं। उदाहरण के लिए: बहुलक सामग्री की आवश्यकता हैपरीक्षण मशीनगति नियंत्रण के लिए, निर्माण सामग्री को लोड नियंत्रण की आवश्यकता होती है, धातु सामग्री को लोड या विरूपण नियंत्रण की आवश्यकता होती है, भवन घटकों को स्वचालित नियंत्रण सिद्धांत से त्वरण नियंत्रण, आदि की आवश्यकता हो सकती है, यदि बंद-लूप सिस्टम परिवर्तन के भीतर किसी भी लिंक के पैरामीटर, यह पूरे बंद-लूप सिस्टम की कार्यशील स्थिति को बदलने का कारण होगा, जिससे सिस्टम सामान्य रूप से काम करने में विफल हो जाता है। सिस्टम को स्थिर रूप से काम करने में सक्षम बनाने के लिए, कुछ नियंत्रण मापदंडों (आमतौर पर P.I.D मापदंडों) को समय में समायोजित करने की आवश्यकता होती है। शिफ्टिंग बंद-लूप सिस्टम के अंदर एम्पलीफायर के प्रवर्धन अनुपात को बदलना है, जो अनिवार्य रूप से पूरे सिस्टम की कार्यशील स्थिति में परिवर्तन का कारण बनेगा। यह कहना है, गियर को शिफ्ट करने के बाद, आपको P.I.D मापदंडों को एक मान पर स्विच करना होगा जो वर्तमान गियर के लिए उपयुक्त है। लेकिन समस्या यह है कि गियर की स्थिति के अलावा, यह पैरामीटर मान भी नमूने से संबंधित है, और नमूना कभी-कभी बदल रहा है और अलग है, इसलिए इसकी विशिष्ट परिमाण पहले से निर्धारित नहीं की जा सकती है; इसके अलावा, गियर को शिफ्ट करते समय नियंत्रण उतार -चढ़ाव होता है, जिसका परीक्षण परिणामों पर प्रभाव पड़ेगा। अतीत में, चूंकि उच्च ए/डी उपलब्ध नहीं था, डेटा अधिग्रहण मुख्य विरोधाभास था, इसलिए ग्रेडिंग का उपयोग अभी भी बहु-बंद-लूप परीक्षण मशीनों पर किया गया था। लेकिन यह आम तौर पर केवल तीन स्तरों में विभाजित होता है, और इसका उपयोग करने के लिए बहुत परेशानी होती है। अब, उच्च-स्तरीय ए/डी की समस्या को हल किया गया है, और आसान उपयोग पर विचार करने की समस्या बन गई है। इसलिए, आम तौर पर, गैर-स्टेज तकनीक को मूल रूप से बहु-निर्मित-लूप परीक्षण मशीनों में अपनाया जाता है।
अधिकसामग्री परीक्षण मशीनतकनीकी लेख सभी उपलब्ध हैं: जिनान हेंग्सी शंदा इंस्ट्रूमेंट नेटवर्क
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