परीक्षण मशीनों के उपयोग में सामान्य शब्दों का विश्लेषण

एस-एन चित्र

VAIMI प्रयोग में, नमूना (n) की संख्या के सापेक्ष तनाव का एक ग्राफ जब नमूना विघटित किया जाता है, तो इसका उपयोग किया जाता है, जिसे S-N ग्राफ कहा जाता है। एस-एन ग्राफ में वक्र डेटा बिंदुओं के एक सेट से बना होता है जो डायवर्जेंट वैकल्पिक तनाव के तहत उनके विघटित जीवनकाल को निर्धारित करता है। तनाव निर्देशांक तनाव आयाम, तनाव या छोटे तनाव का प्रतिनिधित्व कर सकते हैं। एक निश्चित लघुगणक मानक के निर्देशांक का उपयोग अक्सर प्रदर्शन n को प्रकट करने के लिए किया जाता है, और कभी -कभी प्रदर्शन को प्रकट करने के लिए भी एस।

बढ़ाव

तन्य प्रयोगमापा डेटा में मापा गया डेटा लचीलापन की मात्रा। यह मूल गेज लंबाई द्वारा विभाजित गेज वृद्धि (टूटने के बाद मापा गया) है। ऊंचाई जितनी अधिक होती है, उतनी ही अधिक होती है। अचानक लोड या बार -बार लोड प्राप्त होने पर डेटा की विशेषताओं का अनुमान लगाने के लिए बढ़ाव का उपयोग करना असंभव है।

मात्रा लोचदार मापांक

जब डेटा को अक्षीय लोड के अधीन किया जाता है, तो तनाव और मात्रा संक्रमण का अनुपात वॉल्यूमेट्रिक लोच मापांक कहा जाता है। वॉल्यूमेट्रिक इलास्टिक मापांक और लोचदार मापांक (ई) और पॉइसन के अनुपात (आर) के बीच संबंध अवर समीकरण द्वारा प्रकट होता है: वॉल्यूमेट्रिक इलास्टिक मापांक K = E/3 (1-2R)।

प्रभाव की शक्ति

प्रभाव प्रयोगों में, प्रभाव भार के तहत नमूने को तोड़ने के लिए आवश्यक ऊर्जा। दूसरों को प्रभाव ऊर्जा, प्रभाव मूल्य, प्रभाव प्रतिरोध और ऊर्जा रिसेप्शन मूल्य भी कहा जा सकता है। यह डेटा क्रूरता के लिए एक लक्ष्य मूल्य है।

प्रभाव ऊर्जा

प्रभाव प्रयोगों में, प्रभाव भार के तहत भाग को तोड़ने के लिए भाग के लिए आवश्यक ऊर्जा। अन्य शीर्षकों में प्रभाव मूल्य, प्रभाव शक्ति, प्रभाव प्रतिरोध और ऊर्जा रिसेप्शन मूल्य शामिल हैं।

जमा तीव्रता

प्लास्टिक विरूपण के कारण, तनाव मूल्य जो डेटा स्वीकार कर सकता है वह डेटा की उपज शक्ति बन जाता है। इस तनाव के तहत, डेटा को अपरिहार्य राशि के नियम के लिए हमेशा के लिए नियम के अधीन किया जाता है, और यह तनाव डेटा अभ्यास की लोचदार सीमा का भी अनुमान है। परिसर उपज शक्ति को तनाव-तनाव आरेखों के माध्यम से मापा जा सकता है। यह तनाव-तनाव वक्र के चौराहे और तनाव-तनाव वक्र में स्थानीय रेखा के समानांतर एक रेखा के अनुरूप तनाव मूल्य है। (नियमित उपज शक्ति कहा जाता है) धातुओं के संबंध में, नश्वर नियम सदा के लिए 0.2% तक विकृत हो जाता है, अर्थात, नियम रेखा का उप-आंतरिक बिंदु और 0 तनाव अक्ष 0.2% तनाव पर है। प्लास्टिक के बारे में, यह तनाव मूल्य 2%है।

बढ़ाव का लचीलापन

जब डेटा तीव्रता के लिए उपज देता है तो तनाव डेटा लचीलापन का प्रतिनिधित्व होता है।

कठोरता

यह प्लास्टिक झुकने प्रतिरोध की मात्रा को संदर्भित करता है। इसमें दो विशेषताएं भी शामिल हैं: प्लास्टिसिटी और लोच, इसलिए कठोरता केवल सही मूल्य (एएसटीएमडी -747 विनिर्देश) के बजाय लोचदार मापांक का स्पष्ट मूल्य है।

कठोर मापांक

इसका मतलब है कि नमूने को कतरनी प्राप्त करने या लोड को बदलने का तनाव तनाव का एक कार्य है, और कठोर मापांक तनाव द्वारा तनाव की संक्रमण दर है। यह प्रयोग में मापा गया लोचदार मापांक है, अर्थात्, प्रयोग में लोचदार मापांक और कतरनी प्रयोग। स्पष्ट कठोर मापांक प्रयोग में मापा गया प्लास्टिक कठोरता को बदलने का एक तरीका है (ASTMD-1043)। इसका कारण यह है कि इसे "उपस्थिति" कहा जाता है, यह है कि नमूना अपनी आनुपातिक सीमा से अधिक हो गया है और इसे विक्षेपित कर सकता है, और गणना किए गए मान उतने अच्छे नहीं हो सकते हैं जितना कि डेटा लोचदार सीमा द्वारा दर्शाए गए सही लोचदार मापांक।

हुक का नियम

तनाव सीधे कारण के लिए आनुपातिक है। Hooke'Slaw इस आधार पर स्थापित है कि डेटा पूरी तरह से लोचदार है। यह प्लास्टिसिटी या डेटा की गतिशील नुकसान की विशेषताओं पर विचार नहीं करता है।