इलेक्ट्रॉनिक सार्वभौमिक परीक्षण मशीन की बल माप प्रणाली

पारंपरिक यांत्रिक प्रौद्योगिकी और आधुनिक इलेक्ट्रॉनिक प्रौद्योगिकी के संयोजन ने एक सार्वभौमिक परीक्षण मशीन का उत्पादन किया है। सार्वभौमिक परीक्षण मशीन विभिन्न सामग्रियों पर विभिन्न प्रकार के यांत्रिक प्रदर्शन परीक्षणों जैसे कि तन्य, संपीड़न और झुकने का संचालन कर सकती है। यूनिवर्सल टेस्ट मशीन में व्यापक माप रेंज, उच्च सटीकता और तेजी से प्रतिक्रिया की विशेषताएं हैं। विश्वसनीय काम और उच्च दक्षता, और वास्तविक समय में परीक्षण डेटा प्रदर्शित और रिकॉर्ड और प्रिंट कर सकते हैं।

पारंपरिक यांत्रिक प्रौद्योगिकी और आधुनिक इलेक्ट्रॉनिक प्रौद्योगिकी के साथ संयुक्त रूप से सार्वभौमिक परीक्षण मशीन का उत्पादन किया, सार्वभौमिक परीक्षण मशीन विभिन्न सामग्रियों की तन्यता, संपीड़न, झुकने और यांत्रिक संपत्ति परीक्षण की एक संख्या की हो सकती है, सार्वभौमिक परीक्षण मशीन में व्यापक माप रेंज, उच्च परिशुद्धता, तेजी से प्रतिक्रिया विशेषताओं में है। विश्वसनीय संचालन, उच्च दक्षता, लेकिन परीक्षण डेटा वास्तविक समय रिकॉर्डिंग और मुद्रण में प्रदर्शित होते हैं।

इलेक्ट्रॉनिक सार्वभौमिक परीक्षण मशीन का बल मूल्य माप

इलेक्ट्रॉनिक सार्वभौमिक परीक्षण मशीन बल माप

1। बल मूल्य माप

1 बल माप

माप एक बल सेंसर, एक एम्पलीफायर और एक डेटा प्रोसेसिंग सिस्टम के माध्यम से पूरा किया जाता है। आमतौर पर इस्तेमाल किया जाने वाला बल सेंसर एक स्ट्रेन गेज सेंसर है। जब बाहरी बल सेंसर पर कार्य करते हैं, तो यह सेंसर आउटपुट वोल्टेज में परिवर्तन का कारण बनता है, और सेंसर द्वारा वोल्टेज आउटपुट एम्पलीफायर और डेटा प्रोसेसिंग सिस्टम से गुजरता है। विद्युत संकेत को एक मूल्य में बदलें, अर्थात् लागू बल का परिमाण

माप को पूरा करने के लिए बल मापने वाले सेंसर, एम्पलीफायर और डेटा प्रोसेसिंग सिस्टम। फोर्स सेंसर सबसे अधिक इस्तेमाल किया जाने वाला स्ट्रेन गेज सेंसर है, जब सेंसर पर बाहरी बल, सेंसर के आउटपुट वोल्टेज में परिवर्तन और एम्पलीफायर और डेटा प्रोसेसिंग सिस्टम के माध्यम से सेंसर आउटपुट वोल्टेज से उत्पन्न होता है। इलेक्ट्रिक सिग्नल को संख्यात्मक में परिवर्तित किया जाता है, अर्थात् एप्लाइडफोर्स

2। विरूपण का मापन

2 विरूपण माप

इसका उपयोग विरूपण माप और प्रतिष्ठानों के कारण होने वाले विकृति को मापने के लिए किया जाता है।

विरूपण माप सेटअप को मापने के लिए, इसका उपयोग प्रयोग के दौरान उत्पन्न नमूना विरूपण को मापने के लिए किया जाता है।

स्थापना पर दो चक हैं, जो ट्रांसमिशन तंत्र की एक श्रृंखला के माध्यम से माप स्थापना के शीर्ष पर स्थापित फोटोइलेक्ट्रिक एनकोडर से जुड़े हैं। जब दो चक के बीच का अंतराल बदल जाता है, तो फोटोइलेक्ट्रिक एनकोडर की धुरी को घुमाने के लिए प्रेरित किया जाता है, और फोटोइलेक्ट्रिक एनकोडर में पल्स सिग्नल आउटपुट होगा। तब माइक्रोकंट्रोलर इस सिग्नल को संभालना बंद कर देता है और नमूने की विरूपण राशि प्राप्त कर सकता है।

दो चक इंस्टॉलेशन हैं, एक साथ जुड़े हुए फोटोइलेक्ट्रिक एनकोडर पर लगाए गए ड्राइव तंत्र की एक श्रृंखला के बाद, जब दो चक अंतराल भिन्न होते हैं, तो फोटोइलेक्ट्रिक एनकोडर के अक्ष रोटेशन, फोटोइलेक्ट्रिक एनकोडर पल्स सिग्नल को आउटपुट कर सकते हैं। फिर सिग्नल प्रोसेसिंग के लिए MCU, विरूपण की गणना नमूना की जा सकती है।

3। बीम विस्थापन का मापन

3 बीम विस्थापन माप

सिद्धांत लगभग विरूपण माप के समान है, और बीम का विस्थापन फोटोइलेक्ट्रिक एनकोडर के आउटपुट पल्स संख्या को मापकर प्राप्त किया जाता है।

सिद्धांत लगभग समान है के रूप में समान है, बीम के विस्थापन को प्राप्त करने के लिए फोटोइलेक्ट्रिक एनकोडर आउटपुटपुलस संख्या के माप के माध्यम से है।